因為專業
所以領先
以下是激光雷達芯片封裝和組件板封裝的流程及關鍵技術解析,綜合了行業主流工藝和專利技術:
基板準備與預處理
采用金屬、陶瓷或有機材料基板,通過清洗去除表面污染物,確保平整度。
部分工藝需在基板上制作紅外遮光層(如800-1000nm波段遮光材料),防止光干擾。
芯片附著與互連
固晶:使用導電膠或焊料將激光芯片(VCSEL/EEL)粘貼到基板,需精確對位。
鍵合:通過金線鍵合或倒裝芯片技術實現電氣連接,倒裝技術可縮短信號路徑提升性能。
封裝與光學保護
塑封/點膠:采用環氧樹脂或陶瓷材料包裹芯片,需控制溫度/壓力避免空腔形成。
透光件集成:在封裝層開窗并嵌入透光材料(如透明膠或濾光片),透光率需達90%以上。
測試與可靠性驗證
光電參數測試:檢測功率、波長、光斑質量等。
環境測試:高溫高濕、振動沖擊測試封裝結構密封性。
基板制造
制作多層PCB或IC載板,通過激光開窗/開孔暴露焊盤,部分采用銅柱填孔技術增強導電性。
芯片集成
多芯片堆疊:采用3D封裝或晶圓級封裝技術,實現ASIC與MEMS芯片的垂直集成。
異構集成:將激光芯片、驅動電路、傳感器集成于單板,需解決熱膨脹系數匹配問題。
互連與封裝
先進互連:使用TSV(硅通孔)或微凸塊技術實現高密度連接。
模塑成型:采用Open Molding工藝整體封裝,保留濾光片等光學組件外露。
系統級測試
功能驗證:測試信號完整性、時序同步等系統級指標。
熱管理測試:評估封裝結構的熱阻和散熱效率。
微型化:硅光子集成技術實現片上激光雷達,尺寸縮小至芯片級。
高可靠性:采用無空腔塑封工藝(如專利CNXXXX)提升耐高溫高濕性能。
智能化:AI驅動的封裝缺陷檢測系統,提升良率至99.5%以上。
激光雷達芯片清洗劑選擇:
水基清洗的工藝和設備配置選擇對清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會作為一個長期的使用和運行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。
污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環境中的濕氣,通電后發生電化學遷移,形成樹枝狀結構體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內的浮點、灰塵、塵埃等,這些污染物會導致焊點質量降低、焊接時焊點拉尖、產生氣孔、短路等等多種不良現象。
這么多污染物,到底哪些才是最備受關注的呢?助焊劑或錫膏普遍應用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質在所有污染物中的占據主導,從產品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產品質量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質引發接觸電阻增大,嚴重者導致開路失效,因此焊后必須進行嚴格的清洗,才能保障電路板的質量。
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