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所以領先
混合鍵合(Hybrid Bonding)作為半導體封裝領域的革命性技術,正在顛覆傳統制造工藝并加速半導體行業向3D集成時代邁進。以下是其核心影響與技術路徑的詳細分析:
無凸塊直接互連
混合鍵合摒棄了傳統焊料凸塊,通過銅-銅直接鍵合和介質-介質鍵合實現芯片垂直堆疊。這一技術將互連間距從傳統微凸塊的數十微米縮小至亞微米級(如Imec已實現400納米間距),使互連密度提升數倍至每平方毫米700萬連接點,為高帶寬、低延遲的芯片設計奠定基礎。
三維異構集成
支持不同工藝節點、材料和功能的芯片堆疊(如邏輯芯片+存儲器),突破傳統單芯片性能極限。例如:
AMD 3D V-Cache:采用臺積電SoIC-X技術,通過混合鍵合將緩存直接堆疊于CPU核心,顯著提升算力;
HBM存儲器:SK海力士和三星計劃利用混合鍵合實現更高層數堆疊,優化散熱與帶寬。
能效與散熱優化
直接銅互連降低電阻,減少信號傳輸能耗;緊湊結構縮短布線長度,降低延遲。同時,垂直堆疊改善散熱路徑,緩解3D芯片的熱管理難題。
重構制造流程
前端工藝與封裝的融合:混合鍵合需在潔凈度達ISO 3級或更高的環境中完成,要求晶圓級表面處理(如CMP拋光)與高精度對準(±50nm級),推動制造流程向更高集成度演進。
設備與材料革新:如青禾晶元推出全球首臺C2W&W2W雙模式鍵合設備,支持芯片/晶圓靈活堆疊;Resonac開發專用CMP漿料提升晶圓平整度。
設計范式轉型
從2D到3D設計思維:工程師需重新規劃芯片布局,利用垂直空間優化性能與功耗。臺積電預測,3D封裝將逐步替代2.5D成為主流。
IP生態系統重塑:標準化芯粒(Chiplet)接口與混合鍵合兼容性成為關鍵,推動開放式芯粒生態發展。
成本與良率挑戰
顆粒污染敏感性:1微米顆粒即可導致鍵合失效,需引入智能檢測與清潔技術。
退火工藝優化:需平衡銅膨脹與鍵合強度,如三星開發原子層蝕刻技術精確控制銅間隙。
AI與高性能計算
英偉達H100/H200 GPU、蘋果iPhone 18 Pro計劃采用混合鍵合,提升AI算力與能效。
高帶寬內存(HBM)通過混合鍵合實現更薄堆疊層,降低熱阻并提高密度。
存儲技術升級
3D NAND閃存利用混合鍵合分離外圍電路與存儲單元,提升制造效率與性能。
消費電子與汽車電子
CMOS圖像傳感器(如索尼)通過混合鍵合縮小模組尺寸并提升成像質量;
自動駕駛芯片整合雷達與計算單元,滿足低延遲與高可靠性需求。
市場規模爆發
Yole預測,2029年混合鍵合市場規模將達380億美元,占先進封裝市場近半份額。
產業鏈協同創新
設備廠商:BESemiconductor、應用材料、東京電子加速設備研發,臺積電與英特爾推進量產;
材料與工藝:低溫鍵合、單晶銅連接等新技術持續突破。
中國廠商崛起
芯慧聯新、青禾晶元等企業實現國產設備突破,推動國內3D封裝生態建設。
混合鍵合通過高密度互連、異構集成和能效優化,成為延續摩爾定律與超越摩爾定律的雙重驅動力。盡管面臨潔凈度、良率與成本挑戰,其技術成熟度與產業鏈協同效應已顯現,將重構半導體制造范式,推動AI、存儲與消費電子邁入3D集成新時代。
先進芯片封裝清洗介紹
· 合明科技研發的水基清洗劑配合合適的清洗工藝能為芯片封裝前提供潔凈的界面條件。
· 水基清洗的工藝和設備配置選擇對清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會作為一個長期的使用和運行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。
· 污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環境中的濕氣,通電后發生電化學遷移,形成樹枝狀結構體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內的浮點、灰塵、塵埃等,這些污染物會導致焊點質量降低、焊接時焊點拉尖、產生氣孔、短路等等多種不良現象。
· 這么多污染物,到底哪些才是最備受關注的呢?助焊劑或錫膏普遍應用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質在所有污染物中的占據主導,從產品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產品質量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質引發接觸電阻增大,嚴重者導致開路失效,因此焊后必須進行嚴格的清洗,才能保障電路板的質量。
· 合明科技運用自身原創的產品技術,滿足芯片封裝工藝制程清洗的高難度技術要求,打破國外廠商在行業中的壟斷地位,為芯片封裝材料全面國產自主提供強有力的支持。
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