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QFN(Quad Flat No-Lead,方形扁平無引腳)封裝是一種表面貼裝芯片封裝技術,以塑料為密封材料,具有焊盤尺寸小、體積小、質量輕的特點,其獨特的無引腳設計和底部暴露焊盤結構使其在電性能、熱性能及空間利用率上表現優異。
封裝技術的發展可分為三個階段,QFN封裝屬于表面貼裝技術(SMT)時代的進階形式,并融合了后續高密度集成的需求:
通孔安裝(PTH)時代:20世紀80年代前,以TO封裝和DIP(雙列直插)為代表,依賴插裝工藝,引腳通過電路板孔連接。
表面貼裝器件(SMT)時代:80年代,SOP(小外形封裝)、QFP(四邊扁平封裝)等出現,采用表面安裝工藝,提升封裝密度和連接速度。
BGA/CSP與MCM時代:90年代后,BGA通過球柵陣列連接,CSP進一步縮小尺寸,MCM集成多芯片,QFN因小型化和高密度特性在此階段廣泛應用。
塑封QFN器件的典型結構包括Cu引線框架載體、導電膠、裸芯片、鍵合絲和塑封本體,焊端位于底部,表面鍍層多為鍍Sn或NiPdAu處理。底部中央的大暴露焊盤焊接到PCB散熱焊盤后,可顯著提升散熱性能。
根據結構和工藝差異,QFN封裝可分為以下類型:
分類依據 | 類型 | 特點 |
分離方式 | 切割分離 | 焊端側面為裸銅,易氧化污染,需控制切割刀具精度以防卷邊毛刺2 |
沖壓分離 | 切口平整,無需特定模具,但焊端側面殘留錫層與銅框架連接較弱,仍存在氧化風險2 | |
焊端內縮情況 | 非內縮端子 | 底部和側面焊端可焊接,焊點可見,應用廣泛2 |
內縮端子 | 僅底部焊端可焊接,側面被塑封本體隔離,焊點不可見,應用較少2 | |
側面潤濕性 | 常規封裝(不可潤濕) | 焊端側面無特殊處理,AOI檢測困難,可靠性提升受限2 |
側面可潤濕封裝 | 側面經特殊設計和鍍錫處理,形成良好潤濕角,支持AOI檢測,可靠性更高2 |
機械支撐與保護:提供結構穩定性,防止芯片受物理損壞。
信號傳輸與電源分配:優化信號路徑,確保高速數據傳輸和穩定供電。
散熱管理:底部暴露焊盤直接與PCB散熱焊盤連接,熱性能優異。
小型化與高密度:無引腳設計減少空間占用,適合高度集成的電子設備。
與DIP、SOP等封裝相比,QFN具有以下優勢:
尺寸更小:無引腳結構降低封裝體積,提升電路板空間利用率。
可靠性更高:減少引線老化、斷裂導致的故障,耐機械應力和溫度變化能力更強。
工藝適配性好:兼容SMT自動化裝配,支持側面可潤濕設計以優化焊接質量檢測。
QFN封裝廣泛應用于消費電子(如智能手機、可穿戴設備)、通信設備(射頻模塊、基站芯片)、計算機(處理器、存儲器)及工業控制(傳感器、驅動芯片) 等領域,尤其適用于低功耗、高性能、緊湊設計的設備。
QFN的可靠組裝需關注以下要點:
焊盤設計與鋼網開孔:需匹配器件焊端尺寸,確保焊膏均勻分配。
焊膏印刷與回流焊接:采用高流動性錫漿,控制回流曲線以避免虛焊或熱損傷。
預處理技術:濕度敏感器件需預烘以防止開裂,同時需控制焊端氧化(如使用助焊劑改善潤濕性)。
檢測與質量控制:側面可潤濕封裝支持AOI技術,提升焊點缺陷檢測效率。
QFN封裝雖優勢顯著,但仍面臨挑戰:焊端氧化導致焊接不良、內縮端子焊點不可見增加檢測難度、切割/沖壓分離工藝對精度要求較高。未來發展方向包括:
材料優化:開發抗氧化鍍層和高熱導塑封材料,提升可靠性與散熱能力。
結構創新:推廣側面可潤濕設計,結合3D堆疊技術實現更高密度集成。
工藝智能化:通過AI優化回流焊接參數,結合機器視覺提升自動化檢測精度,滿足高可靠性應用需求(如汽車電子、航空航天)。
水基清洗的工藝和設備配置選擇對清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會作為一個長期的使用和運行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。
污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環境中的濕氣,通電后發生電化學遷移,形成樹枝狀結構體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內的浮點、灰塵、塵埃等,這些污染物會導致焊點質量降低、焊接時焊點拉尖、產生氣孔、短路等等多種不良現象。
這么多污染物,到底哪些才是最備受關注的呢?助焊劑或錫膏普遍應用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質在所有污染物中的占據主導,從產品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產品質量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質引發接觸電阻增大,嚴重者導致開路失效,因此焊后必須進行嚴格的清洗,才能保障電路板的質量。
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