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以下是關于集成FPGA和DSP芯粒的異構系統級封裝(SiP)的詳細介紹,結合技術原理、設計特點及應用前景進行結構化闡述:
FPGA與DSP芯粒的協同設計
FPGA角色:提供靈活的可編程邏輯,負責系統控制、數據預處理及動態任務分配。例如,Arvon系統通過FPGA將矩陣乘法、卷積等通用計算任務卸載至DSP。
DSP芯粒特性:專為高密度計算優化,半精度浮點運算峰值達4.14 TFLOPS,能效比1.8 TFLOPS/W,適用于神經網絡推理、信號處理等場景。
擴展性設計:支持添加模數轉換器(ADC)、光學收發器等前端(FE)芯粒,形成完整通信或傳感系統。
互連技術
嵌入式多芯片互連橋(EMIB):用于FPGA與DSP之間的2.5D集成,實現低延遲、高帶寬通信。例如,Arvon通過EMIB連接FPGA與DSP1(AIB1.0接口,1.536 Tb/s)。
高級接口總線(AIB):AIB2.0接口支持7.68 Tb/s帶寬,采用36-μm-pitch微凸塊技術,能效達0.10–0.46 pJ/b,Shoreline帶寬密度1.024 Tb/s/mm。
3D堆疊技術:部分設計采用銅混合鍵合(如專利CN202411564564.8),通過硅通孔(TSV)實現GPU與FPGA的垂直互聯,降低布線延遲。
動態任務映射策略
模式1/2:FPGA分別連接單個DSP,處理獨立任務(如模式1用于神經網絡,模式2用于通信信號處理)。
模式3:雙DSP并行工作,通過AIB2.0接口共享數據,提升計算密度(如批量歸一化加速,減少GPU內存訪問次數)。
編譯工具支持:開發專用編譯器自動分配任務至FPGA或DSP,優化資源利用率和能效。
數據流管理
芯片間接口設計:DSP芯粒兩側配置AIB接口(東側24通道,西側8通道),支持跨芯粒數據傳輸。
低抖動時鐘同步:采用環形鎖相環(PLL)為DSP集群和接口生成穩定時鐘信號,確保系統時序一致性。
異構集成流程
芯粒選擇:采用已知良品裸die(KGD)策略,降低封裝缺陷率,支持跨供應商芯粒復用。
封裝工藝:2.5D SiP使用硅中介層(Interposer)實現高密度互連;3D堆疊通過TSV和混合鍵合技術實現垂直互聯。
熱管理:采用硅基板(Silicon Interposer)增強散熱,結合系統級熱分析工具優化布局。
關鍵挑戰
信號完整性:高帶寬接口(如AIB2.0)需解決串擾和反射問題,需通過仿真工具優化布線。
成本與良率:芯粒尺寸縮小提升良率,但多工藝節點集成增加設計復雜度。
技術優勢
成本效益:相比單片SoC,SiP設計周期縮短30%-50%,NRE成本降低40%。
性能提升:AIB2.0接口帶寬密度達1.705 Tb/s/mm2,接近單片集成水平。
靈活性擴展:支持動態添加芯粒(如ADC、光學模塊),適應多樣化應用場景。
典型應用場景
實時信號處理:FPGA處理高速數據采集,DSP執行FFT、濾波等運算,適用于雷達、醫療成像。
自動駕駛:集成傳感器處理(FPGA)與AI推理(DSP),滿足低延遲需求。
通信系統:FPGA實現協議解析,DSP加速基帶處理,支持5G/6G大規模MIMO。
標準化接口:推動AIB、UCIe等開放互連協議,降低跨廠商芯粒集成門檻。
異構計算融合:結合GPU、存內計算(PIM)芯粒,構建更高效的AI加速器。
工具鏈創新:開發系統級設計工具,支持從RTL到封裝的全流程協同優化。
芯片清洗劑選擇:
水基清洗的工藝和設備配置選擇對清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會作為一個長期的使用和運行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。
污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環境中的濕氣,通電后發生電化學遷移,形成樹枝狀結構體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內的浮點、灰塵、塵埃等,這些污染物會導致焊點質量降低、焊接時焊點拉尖、產生氣孔、短路等等多種不良現象。
這么多污染物,到底哪些才是最備受關注的呢?助焊劑或錫膏普遍應用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質在所有污染物中的占據主導,從產品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產品質量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質引發接觸電阻增大,嚴重者導致開路失效,因此焊后必須進行嚴格的清洗,才能保障電路板的質量。
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