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雙面散熱IGBT(絕緣柵雙極型晶體管)作為一種高效散熱的高功率器件,在電動汽車、新能源發電和工業驅動等領域備受關注。然而,其技術實現和產業化仍面臨一系列痛點和挑戰,以下是詳細分析及解決思路的探討:
問題:雙面散熱需在芯片兩側同時集成散熱路徑,導致封裝結構復雜度大幅增加,傳統單面焊接和引線鍵合技術難以直接應用。
具體難點:
需要超薄芯片(如<100μm)以縮短熱路徑,但薄芯片易碎裂,制造和封裝良率低。
兩側散熱基板(如DCB陶瓷基板或金屬基板)的對稱性要求高,熱膨脹系數(CTE)失配易導致熱應力集中。
問題:雙面散熱對導熱材料要求更高,但界面熱阻和材料可靠性成為瓶頸。
具體難點:
傳統焊料(如錫基合金)導熱率低(<50 W/m·K),且高溫下易產生空洞和老化。
芯片與基板、基板與散熱器之間的多層界面熱阻疊加,降低整體散熱效率。
問題:雙面焊接/燒結工藝的一致性和可靠性難以保證。
具體難點:
雙面同時焊接時,溫度曲線控制困難,易出現局部過熱或虛焊。
燒結銀(Ag Sintering)技術成本高,且對表面粗糙度和潔凈度要求苛刻。
問題:雙面結構在溫度循環和功率循環下的疲勞失效風險更高。
具體難點:
熱應力集中在薄芯片和界面處,導致裂紋擴展或分層。
高濕度、振動等環境因素加速界面材料老化。
問題:材料和工藝成本高,量產一致性難以控制。
具體難點:
超薄芯片加工、高精度貼裝設備依賴進口,初期投資大。
雙面散熱封裝需專用生產線,與傳統單面工藝不兼容。
方案:
嵌入式封裝設計:采用無基板(Substrate-free)結構,直接通過金屬化層連接芯片兩側散熱器(如英飛凌的.XT技術)。
柔性緩沖層:在芯片與基板間引入柔性高分子材料(如聚酰亞胺),緩解CTE失配應力。
案例:三菱電機通過“雙面直接水冷”設計,將熱阻降低30%。
方案:
高導熱界面材料:采用納米銀膏(導熱率>200 W/m·K)或石墨烯復合材料,替代傳統焊料。
高性能基板:使用氮化硅(Si3N4)陶瓷或活性金屬釬焊(AMB)基板,提升耐高溫和導熱性能。
進展:羅姆半導體開發的Cu-AMB基板,熱導率達380 W/m·K。
方案:
低溫燒結技術:通過壓力輔助燒結(<200°C)實現高可靠性連接,減少熱損傷。
激光輔助鍵合:利用激光局部加熱,實現雙面同步焊接,提升工藝一致性。
案例:富士電機采用銀燒結技術,將功率循環壽命提升至傳統焊料的5倍。
方案:
多物理場仿真:通過COMSOL或ANSYS模擬熱-機械應力分布,優化結構設計。
加速老化測試:開發針對雙面散熱的溫度沖擊(-55°C~175°C)和功率循環(ΔTj>100K)測試標準。
進展:安森美通過仿真優化,將熱應力峰值降低40%。
方案:
晶圓級封裝(WLP):在晶圓階段完成雙面金屬化和散熱層集成,減少后續封裝步驟。
國產化設備替代:推動高精度貼片機和激光焊接設備的國產化,降低設備成本。
案例:國內廠商斯達半導體已實現雙面散熱模塊的規模化生產。
集成化散熱:將散熱器與功率模塊一體化設計(如直接液冷集成),進一步降低熱阻。
寬禁帶材料融合:SiC與IGBT混合封裝,利用SiC的高導熱性提升局部散熱能力。
智能化監測:集成溫度/應變傳感器,實時監控器件健康狀態,實現預測性維護。
雙面散熱IGBT的核心矛盾在于**“高效散熱需求”與“結構/工藝/成本限制”**之間的平衡。未來突破需依賴材料創新(如二維導熱材料)、工藝升級(如晶圓級封裝)和設計仿真協同優化。隨著新能源汽車和可再生能源對高功率密度器件的需求激增,雙面散熱技術有望在3-5年內實現成本下探和規模化應用。
IGBT功率器件芯片清洗劑選擇:
水基清洗的工藝和設備配置選擇對清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會作為一個長期的使用和運行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。
污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環境中的濕氣,通電后發生電化學遷移,形成樹枝狀結構體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內的浮點、灰塵、塵埃等,這些污染物會導致焊點質量降低、焊接時焊點拉尖、產生氣孔、短路等等多種不良現象。
這么多污染物,到底哪些才是最備受關注的呢?助焊劑或錫膏普遍應用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質在所有污染物中的占據主導,從產品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產品質量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質引發接觸電阻增大,嚴重者導致開路失效,因此焊后必須進行嚴格的清洗,才能保障電路板的質量。
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